白光干涉儀可進行可靠的厚度測量，精度可達亞微米級
新型 IMS5200-TH 白光干涉儀為快速可靠的厚度測量開闢了新的前景。控制器具備智慧型評估功能，可精確測量 1 µm 以內透明層的厚度。由於高達 24 kHz 的高量測率，IMS5200 機型非常適合工業用途
不同測量距離下的可靠厚度測量
IMS5200-TH 白光干涉儀用於高精度厚度測量。其決定性的優勢在於與距離無關的量測，即使是移動的物體也能達到奈米級的精確厚度值。1 到 100 µm 的量測範圍可量測透明薄層和薄膜
多層厚度量測
使用多峰值控制器，可以同時評估數個波訊號。因此可以對透明物體和夾層玻璃進行多層厚度測量。無論其位置如何，控制器都會輸出具有最高穩定性的厚度值
工業環境的理想選擇
堅固耐用的感測器和控制器位於金屬外殼中，使系統非常適合整合到生產線中。此感測器設計精巧，操作範圍大，容易整合。即使在振動的環境下，也能提供穩定的測量結果。控制器可安裝在控制櫃內的 DIN 導軌上。線材長度可達 10 公尺，可讓感測器與控制器在空間上分離。調試和參數設定可透過 Web 介面方便地進行，不需要安裝任何軟體
