thicknessGAUGE C.LP
thicknessGAUGE C.LP センサシステムは、厚さ測定にレーザープロファイルスキャナを使用しています。このスキャナは表面にレーザーラインを投影し、レーザーラインがストリップの傾きを補正するので、プロファイルの平均化が可能になっています。レーザーライン測定技術により、エンボス加工された表面や多孔板といった構造材の厚さ測定が行えるシステムです。
thicknessGAUGE C.LP センサシステムは、厚さ測定にレーザープロファイルスキャナを使用しています。このスキャナは表面にレーザーラインを投影し、レーザーラインがストリップの傾きを補正するので、プロファイルの平均化が可能になっています。レーザーライン測定技術により、エンボス加工された表面や多孔板といった構造材の厚さ測定が行えるシステムです。

