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interferoMETER IMS5400-DS

最高精度での絶対距離測定

ナノメートル精度での絶対距離測定のための白色光干渉計

新しい白色光干渉計 IMS5400-DSは、産業分野における距離測定に新たな展望をを切り開きました。このコントローラにはインテリジェントな評価機能が搭載されており、比較的長いオフセット距離でナノメートル精度の絶対測定を行うことができます。そのためIMS5400-DSは、他の絶対測定光学システムと比較しても、精度・測定範囲・オフセット距離という組み合わせにおいて比類のない性能を提供しています。

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特徴

  1. 段差プロファイルなどの測定に適したナノメートル精度の絶対距離測定
  2. 透明体のマルチピーク距離測定
  3. 大きなオフセットを備えたコンパクトで堅牢なセンサ
  4. 高速な測定のための最大6 kHzの測定レート
  5. パッシブ冷却機能を備えた堅牢なコントローラ
  6. Webインターフェースによる簡単な設定
  7. 90°の光路にも対応したコンパクトなセンサ
  8. 産業用途への柔軟な統合により、現場での迅速な調整が可能
  9. 新登場 - 大きなオフセットに対応 - 手が届きにくい深部領域に適した安全な距離測定
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Micro-Epsilon Japan株式会社
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ナノメートル精度の分解能による絶対距離測定

IMS5400-DSは、高精度な変位・距離測定に使用されます。従来の干渉計とは異なり、IMS5400-DSは段付きプロファイルの安定した測定も可能です。絶対測定により、高い信号安定性と精度で段差のスキャンを行います。そのため、可動測定対象物を測定する際にヒール、段差、くぼみの高低差を確実に検知することができます。 

マルチピーク距離測定

透明な物体に対するマルチピーク距離測定では、最大14の距離値を同時に評価することができるので、例えばガラスとキャリアプレートの距離などの測定が行えます。さらにこのコントローラは、距離の値からガラスの厚さを計算することも可能です。

産業環境での使用に理想的

堅固なセンサと金属ハウジング内のコントローラは、生産ラインへの組込みシステムに最適です。コントローラはDINレールを取り付けて制御キャビネットに装着することができ、アクティブ温度補正機能とパッシブ冷却機能により、極めて安定した測定結果をもたらします。コンパクトなセンサは非常に省スペースで、限られた設置スペースにも組み込むことができます。柔軟性の高い光ファイバーケーブルは10mまでの長さがあり、センサとコントローラを空間的に離すことができます。セットアップとパラメータ化はWebインターフェースを介してスムーズに行うことができ、ソフトウェアのインストールは不要です。

極小の細部や構造を測定するための小さな光点

このセンサは、測定範囲全体に渡り小さな光点を形成することで測定を行います。光点の直径はわずか10 µmなので、半導体や小型電子機器部品の構造といった小さな細部も検知することができます。

様々な表面の測定

干渉測定法により様々な表面を測定することが可能なので、反射する金属、プラスチック、ガラス上で高精度な距離測定を行うことができます。

新製品:大きなオフセットに対応したセンサ

手が届きにくい測定点や奥まった場所の測定点でも、安全で信頼性の高い測定を実現。新しいセンサ IMP DS35/VAC は大きなオフセットを備え、外乱の影響を低減し、同時に高温物体との安全な距離を確保します。

光路が90°のセンサもご用意

コンパクトな設計により、センサは限られた設置スペースにも組み込み可能です。90°のビーム出射モデルでは、必要な設置奥行きがさらに大幅に低減されます。

要求の厳しい測定タスクに対応する多様なモデル

モデル測定範囲 / 測定開始距離直線性測定可能層数用途
IMS5400-DS0.5/90/VAC1.5 mm / 約 0.5 mm± 50nm-

コーティングされたウェハの測定など、クリーンルーム環境や真空中での高精度な距離測定
非磁性チタン製の超高真空対応モデルは、強力な磁場が生じる医療用機器(MRIや電子顕微鏡)での使用に最適

IMS5400-DS10/90/VAC1.5 mm / 10 mm
IMS5400-DS192.1 mm / 約19 mm± 50 nm-精密な加工・製造など産業用途での距離測定
IMS5400-DS19/VACディスプレイ製造におけるマスク位置決めなど、クリーンルーム環境や真空中での高精度な位置決めと距離測定
IMS5400-DS35/VAC

2.1 mm / 約 35 mm

最初の距離に対して < ±50 nm
以降の各距離に対して < ±150 nm 
-ガラスウェハ製造における高精度な位置監視およびコーティングされたウェハ上での距離測定に最適。オフセットが大きいため安全な距離から測定が可能で、奥まった場所や手が届きにくい測定点での使用も容易です
IMS5400MP-DS35/VAC距離測定:
2.1 mm / 約35 mm
厚み測定:
0.01 ~ 1.3 mm(BK7、n=1.5 の場合) / 約 35 mm
最大13層
IMS5400MP-DS19距離測定:
2.1 mm / 約 19 mm
厚み測定:
0.01 ~ 1.3 mm(BK7、n=1.5 の場合) / 約 19 mm
最初の距離に対して ± 50 nm
以降の各距離に対して ± 150 nm
最大13層フラットガラスなどの生産における産業用途での距離・厚み測定
IMS5400MP-DS19/VACディスプレイ製造における距離・ギャップ測定など、クリーンルーム環境および真空中での高精度な距離・厚み測定

Interface and signal processing units

機械やシステムに統合するための最先端インターフェース

コントローラにはEthernet、EtherCAT、RS422といった統合インターフェースおよび追加のエンコーダ接続部、アナログ出力、同期入力、デジタルI/Oが搭載されています。マイクロエプシロンのインターフェースモジュールを使用すればPROFINETとEthernetIPも利用可能なので、この干渉計はあらゆる制御システムや生産プログラムに組み込むことができます。

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