프로파일, 두께, 위치의 2축 측정을 위한 시스템
profileGAUGE는 초미세 와이어나 원형 소재의 프로파일, 두께 및 위치를 2축으로 측정하는 고정밀 센서 시스템입니다. 특히 산업 공정 내 인라인 측정 작업을 위해 특수 개발되었으며, 뛰어난 정확도와 간편한 통합 방식, 공정 신뢰성을 자랑합니다. 또한, 시스템 내부에는 두 대의 광학 마이크로미터 optoCONTROL ODC2700이 X자 형태로 사전 조립되어 있어 타겟을 두 축에서 동시에 측정합니다. 그 결과, 빠른 공정 속도에서도 직경, 컨투어, 위치값을 안정적으로 정확하게 기록할 수 있습니다.
양쪽 축에서 얻은 통계 데이터는 고객사의 제어 시스템이나 상위 평가 시스템을 통해 개별적으로 계산 및 가공할 수 있습니다. 덕분에 profileGAUGE를 기존의 품질 관리 및 제어 컨셉에 최적화된 상태로 통합할 수 있습니다. 뿐만 아니라, 산업용 Ethernet 인터페이스를 통해 편리한 연결성을 제공하며, TCP, UDP, FTP와 같은 표준 프로토콜 역시 지원합니다. 이러한 특징 덕분에 기존 버스 시스템에 손쉽게 통합할 수 있으며, 제어 시스템과도 안정적으로 통신합니다.
특징
- 직경, 프로파일, 위치의 정밀한 2축 측정
- 플러그 앤 플레이 (Plug & Play)솔루션 제공: 사전 조립, 얼라인먼트, 배선 모두 완료된 상태로 공급
- 동기식 및 비동기식 작동 지원
- sensorTOOL을 통한 효율적인 데이터 관리
- 각도 측정 및 액티브 경사 보정 (Active inclination correction)
- 최상의 유연성을 위한 다양한 필드버스 연결: Ethernet / EtherCAT / RS422 / EtherNet/IP / PROFINET
- 고속 인라인 품질 관리에 최적화
최소 30 µm의 미세 직경까지 정밀 측정
profileGAUGE 시스템은 최소 30 µm의 직경까지 측정할 수 있어, 초미세 와이어나 매우 작은 원형 프로파일을 정밀하게 측정하기에 이상적입니다. 특히 민감한 소재를 다루거나 공정 속도가 빠른 환경에서도 탁월한 성능을 발휘합니다.
여기서 가장 결정적인 장점은 액티브 경사 보정 (Active inclination correction)기능입니다. 스마트 평가 기능을 통해 측정 대상체의 기울어짐을 감지하며, 내부 컨트롤러가 타겟의 실제 얼라인먼트에 맞춰 측정값을 자동으로 보정합니다. 이를 통해 특히 동적인 생산 공정에서 발생할 수 있는 기울어짐으로 인한 오차를 효과적으로 방지합니다. 해당 보정 기능은 최대 측정 속도인 5 kHz 환경에서도 실시간으로 작동하며 직경, 와이어, 컨투어 측정 프로그램에서 모두 사용 가능합니다.
운영 안정성 극대화를 위한 오염 여부 감지 기능
profileGAUGE 시스템에는 실시간 데이터 분석 기능이 내장되어 있어, 광학계의 오염을 조기에 감지하고 보정합니다. 이를 통해 측정 결과의 왜곡을 방지하고 장비의 다운타임이나 오작동을 예방함으로써, 생산 공정의 연속성을 확보하고 신뢰할 수 있는 측정값을 보장합니다.
시스템은 사용자의 요청이나 정기 점검 주기에 맞춰 오염도 정보를 보고합니다. 특히 관련 데이터는 내장 인터페이스를 통해 편리하게 제공되므로, 장비의 이상 징후를 미리 파악하여 효율적으로 관리할 수 있습니다. 또한, 스마트 평가 기능은 글라스 표면뿐만 아니라 레이저 빔 경로 상의 아주 미세한 오염까지 검출합니다. 덕분에 육안으로 보이지 않는 아주 작은 먼지 입자나 오일 스프레이까지 정확하게 감지하여 안정적인 측정이 가능합니다.
오염도 출력 (3단계):
- 정상: 전체 측정 범위 내에서 오염이 감지되지 않음
- 주의: 감지된 오염이 측정에 영향을 주지 않는 영역에 위치
- 오염: 실제 측정 영역 내에서 오염 감지
안정적인 측정을 보장하는 보호 옵션
profileGAUGE는 열악한 산업 현장에서도 사용할 수 있도록 다양한 보호 액세서리를 옵션으로 제공합니다. 덕분에 가혹한 조건 속에서도 장비의 정밀도를 안정적으로 유지할 수 있습니다. 특히, 보호 글라스는 사용 환경이 열악한 경우, 광학계가 손상되는 것을 방지하는 역할을 합니다. 또한, 에어 퍼지 칼라를 장착하여 LED 빔 경로가 항상 깨끗하게 유지할 수 있는데, 이는 장치가 먼지나 이물질이 광학 부품에 내려앉기 전에 미리 강력하게 불어내어 측정 결과에 미칠 영향을 차단하기 때문입니다.
기계 및 시스템과의 연동을 위한 최신 인터페이스
